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轮廓扫描干涉测量仪与法布里-珀罗标准具
时间:2018-05-22 17:31来源:讯技光电作者: 技术部点击:打印
干涉测量作为最重要的光学测量技术之一已在各领域得到广泛应用。我们将介绍两个示例,利用轮廓扫描干涉仪测量表面形貌和利用Fabry-Pérot标准具实现光谱测量。得益于非序列扩展功能,这两个应用所采用的系统在VirtualLab中可以轻松地实现设置。不仅可以清晰地对其工作原理进行描述及可视化,利用非序列场追迹技术更能够快速且精确地对这类系统进行分析。
 
轮廓扫描干涉测量仪
 
利用低相干氙灯光源,迈克尔逊干涉仪可以精确扫描给定样品的表面轮廓。
 
 
利用标准具检查钠灯D光
 
在VirtualLab Fusion中使用非序列场追迹技术建模二氧化硅间隔标准具,并用将其于测量钠D光。
 
 
 
 
了解更多信息,请发送邮件至:support@infotek.com.cn / support@infocrops.com
网址: / http://www.honglun-seminary.com
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